year | 1994 |
author(s) | Michael Reinermann |
title | Untersuchungen mit dem Raster-Tunnel-Mikroskop an piezoelektrischen Filmen und Oberflächendefekten |
KIP-Nummer | HD-KIP 94-10 |
KIP-Gruppe(n) | F3 |
document type | Diplomarbeit |
source | Diplomarbeit 1994 |