KIP publications

year	2002
author(s)	Stefan Diez
title	Untersuchung ultradünner Kupferfilme auf Silizium(111) mittels Infrarot-Spektroskopie, statischer Widerstandsmessung und Adsorbaten
KIP-Nummer	HD-KIP 02-15
KIP-Gruppe(n)	F6
document type	Diplomarbeit

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