KIP publications

year	1996
author(s)	Nina Kolata
title	Messungen der Eigenschaften von CMOS Schaltkreisen unter Temperatur- und Strahlungseinflüssen
KIP-Nummer	IHEP 96-14
KIP-Gruppe(n)	S5
document type	Staatsexamensarbeit
Datei	ps.gz

Service

KIP - Bibliothek
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