KIP publications

year 1996
author(s) Nina Kolata
title Messungen der Eigenschaften von CMOS Schaltkreisen unter Temperatur- und Strahlungseinfl├╝ssen
KIP-Nummer IHEP 96-14
KIP-Gruppe(n) S5
document type Staatsexamensarbeit
Datei ps.gz
KIP - Bibliothek
Im Neuenheimer Feld 227
Raum 3.402
69120 Heidelberg