Dynamik komplexer Systeme - Kapazitätsmessbrücken

Kapazitätsmessbrücken


Die niederfrequente dielektrische Suszeptibilität wird mit Hilfe von selbtgebauten Kapazitätsbrücken gemessen. Hierbei wird die zu messende Kapazität, die als Dielektrikum die Probe enthält, mit der einer Referenzkapazität verglichen, die als Dielektrikum einen Saphirkristall besitzt. Unterhalb von wenigen Kelvin ist der Beitrag des Saphirs zum dielektrischen Verlust vernachlässigbar und seine Suszeptibilität ist in sehr guter Näherung konstant. Abb. 1 zeigt einen Probenhalter für eine derartige Vergleichsmessung.

       Abb. 1: Foto eines Probenhalters zur Messung der dielektrischen Suszeptibilität bei tiefen Temperaturen. Die zwei Teile zeigen die Kapazität mit Probe und die Referenzkapazität


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